PL檢查機

Hamamatsu_PL
PL檢查機

此設備有著高效率量測能力，可以在wafer上測量MicroLED chip by chip PL強度及波長，並於20分鐘內測量完成，且具備分析功能，能分析MicroLED元件的品質。

規格表

1. 高效率量測能力：
  • 可在20分鐘內完成每一個LED的PL強度及波長量測(於100mm x 100mm區域內)
  • 波長量測精度
2. 分析功能：
  • Chip by chip依序的光譜及時差性螢光量測
  • 用於分析微型LED組件的品質的光致發光（TR PL）

代理品牌 日本Hamamatsu

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