ELチップ電測検査装置

CST_ELCheck
ELチップ電測検査装置

本装置は、サファイア基板上にエピタキシャル成長したLEDチップを自動選別検査する装置です。 直感的な電気通信LED検査により、LED金属電極ピンの導電性を確認し、LEDの良否を判定します。

機能

  • 輝度情報（明るい点、暗い点）
  • 不良点検出、メモリ座標
  • 検出歩留まり統計、総欠陥数表示
  • 不良箇所（AAエリア）を製品で自由に定義したマップ形式で表示可能
  • AAエリア内のLED点灯・非点灯を区別可能（ハードウェア分割段階、製品に検査用補助マークが必要）
    （製品仕様と動作パラメータによる）
  • 製品によって、小型不良、中型不良、大型不良、過大不良を自由に定義できる。

利点

生産プロセスの前に事前にLEDを検査し、その後の生産プロセスの損失を避けることができる。

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